Diseño del módulo de comprobación de Hipot

Los parámetros que se deben controlar en la prueba de tensión soportada son: el valor de la alta tensión de salida del transformador y el valor de la corriente de fuga del circuito de prueba (como se muestra en la Figura 2). El devanado secundario del transformador elevador utilizado en el sistema de prueba tiene dos salidas de tensión: 0~5000V y 0~5V. Cuando la salida de alta tensión del devanado secundario del transformador cambia de 0V a 5000V, la salida de baja tensión del devanado secundario del transformador cambia de 0V a 5V, y existe una buena relación lineal entre las dos salidas. Al comienzo de la prueba, dentro del intervalo de tiempo de refuerzo establecido, la salida de tensión del lado de baja tensión del devanado secundario del transformador ingresa al microordenador de un solo chip ADCm842 después del transformador de aislamiento y el circuito de acondicionamiento de señal. El convertidor analógico-digital de 12 bits del microordenador de un solo chip ADCm842 realiza una conversión A/D de alta velocidad a una velocidad de conversión de 420.000 veces por segundo. La cantidad digital después de la conversión A/D se transmite al ordenador y se compara con el valor establecido por el ordenador hasta que el voltaje de salida alcanza el valor de voltaje establecido. Creemos que el voltaje de prueba de salida real cumple con los requisitos de nuestro valor establecido.
El rango de prueba de la corriente de fuga del sistema de prueba de tensión soportada es de 0 mA ~ 20 mA. Al comienzo de la prueba, la corriente de fuga del dispositivo bajo prueba pasa a través del transformador de corriente, y luego el circuito de conversión I/V convierte la corriente muestreada en voltaje para la conversión A/D correspondiente y el cálculo en el microordenador de un solo chip. Finalmente, se obtiene el valor de la corriente de fuga del dispositivo bajo prueba bajo la condición de voltaje establecida. Al compararlo con el valor de la corriente de fuga especificado en la norma de seguridad, se puede verificar si la prueba de tensión soportada del dispositivo está calificada. En la prueba real, se diseña un circuito de protección contra sobrecorriente en el lado secundario del transformador de corriente. Cuando ocurre una sobrecorriente, como cuando el dispositivo bajo prueba se rompe o el aislamiento del dispositivo bajo prueba es defectuoso, la fuente de alimentación se corta rápidamente y la prueba se termina para proteger el sistema de prueba contra daños.
La parte de acondicionamiento de señal convencional utiliza un cálculo analógico de valor efectivo real. El cálculo del valor efectivo y del valor pico de la señal de corriente de fuga se ingresa en el microordenador o computadora de un solo chip después de que se completa el circuito de hardware. Este método de acondicionamiento de señal solo puede obtener el valor pico o el valor efectivo de la señal de corriente de fuga. Este método no solo no es preciso, sino que también pierde información de frecuencia y no puede reproducir verdaderamente la forma de onda real de la corriente de fuga. Este sistema utiliza una conversión A/D de alta velocidad para recopilar directamente el valor de voltaje de CA en la computadora, calcular el valor pico y el valor efectivo de acuerdo con los requisitos del usuario y dibujar la forma de onda de la corriente de fuga en tiempo real para que el usuario pueda monitorear intuitivamente la corriente de fuga. La computadora también puede realizar una corrección de software para eliminar errores causados ​​por la deriva y el desfase. De acuerdo con las condiciones reales, también se puede utilizar el filtrado digital para eliminar la interferencia de alta frecuencia. Este método de acondicionamiento de señal simplifica el circuito de hardware, tiene bajo costo, alta precisión de prueba y buena estabilidad de prueba. Dado que la tensión de prueba de la prueba de tensión soportada es alta, para garantizar la seguridad de la prueba, la carcasa del chasis del sistema de prueba debe estar bien conectada a tierra durante la prueba.